专利名称：半导体激光器测试系统专利类型：实用新型专利
发明人：张丽雯,陆耀东,王涛,任奕奕,宋金鹏,张玉莹申请号：CN201520317536.6申请日：20150515公开号：CN204666336U公开日：20150923
摘要：本实用新型提供一种半导体激光器测试系统，包括多台测试仪、控制主机、测试仪电源线、测试仪供电电源、半导体激光器电源线和数据总线；每台测试仪与每个被测半导体激光器一一对应；每台测试仪通过数据总线与控制主机连接，通过测试仪电源线与测试仪供电电源连接，半导体激光器的电源受测试仪控制；测试仪包括处理器、存储器、功率传感器、电压传感器、电流传感器、温度传感器和制冷设备；处理器接收到控制主机发送的测试指令后断开与数据总线的电连接，控制上述各传感器进行参数数据采集，将参数数据处理结果存储在存储器中，实现了同时对多台半导体激光器的工作稳定性的高效、全面准确测试，且离线测试保证了长期测试过程中数据的安全可靠。
申请人：北京光电技术研究所
地址：100010 北京市东城区东皇城根北街甲20号
国籍：CN
代理机构：北京同立钧成知识产权代理有限公司
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