原子力显微镜样品的要求
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发布时间：2024-10-24 15:14
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时间：2024-11-03 11:17
原子力显微镜是一种精密的实验工具，它的研究对象广泛，包括有机固体、聚合物以及生物大分子等。在进行实验时，选择样品的载体至关重要。常见的载体有云母片、玻璃片、石墨、抛光硅片、二氧化硅以及生物膜等。云母片因其表面平整且易于处理，成为了最常用的样品载体。特别指出，使用抛光硅片时，需要先用浓硫酸和30%双氧水的7:3混合液，在90℃下处理1小时，以确保其电性能良好。
在样品的厚度方面，试样台的最大厚度*为10毫米。过重的试样可能会对显微镜的Scanner操作产生影响，因此，不建议使用过重的样品。试样的尺寸一般要求不大于试样台直径（20毫米）的标准，但稍微大一些也是可以接受的，最大尺寸大约为40毫米。为了保证测量的准确性，确保试样在测量前已经牢固固定，避免因移动而影响结果。
扩展资料
原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面结构信息。
